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2601B-PULSE Pulser 10 µsec/SMU
1 pulseur/1 SMU
1 μA - 10 A
1 μV - 10 V
100 fA - 10 A
100 nV - 40 V
Pulseur : 0,05 %
SMU : 0,015 %
1 M lectures/s
Obtenez une fidélité d'impulsion élevée sans réglage manuel des impulsions
Le système de boucle de contrôle du 2601B-PULSE élimine le besoin de régler manuellement les changements de charge jusqu'à 3 μH, garantissant que votre impulsion n'a pas de dépassement ni de suroscillation lors de la sortie d'impulsions de 10 μs à 500 μs à n'importe quel niveau de courant jusqu'à 10 ampères. Avec des temps de montée d'impulsion de <1,7 μs, vous pouvez caractériser correctement votre appareil ou circuit testé.
- Sortie 10 A à 10 V avec largeur d'impulsion de 10 μs
- Temps de montée de l'impulsion <1,7 μs pour caractériser en toute confiance
- Sortie d'impulsion haute fidélité sans réglage à tous les niveaux de courant
Intègre la fonctionnalité d'un pulseur rapide et d'une SMU dans un seul instrument
Le 2601B-PULSE ajoute une fonctionnalité de pulseur aux capacités d'intégrité, de synchronisation, de vitesse et de précision de la mesure que vous connaissez déjà de l'instrument SMU Keithley 2601B.
- Pulser 0,05 % de précision de mesure de base avec numérisation à 1 M éch/s
- SMU 100 nA plage de courant faible avec sensibilité 100 fA
- Connexions BNC sur le panneau arrière pour une installation rapide des câbles
Création de scripts et connectivité intégrées pour un débit de production inégalé
La technologie TSP® (Test Script Processor) intègre et exécute des programmes de test complets à l'intérieur de l’unité SMU pour offrir les meilleures performances du marché. La technologie TSP-Link® permet d'étendre jusqu'à 32 nœuds TSP-Link pour créer des tests parallèles SMU par broche à haute vitesse sans mainframe.
- Élimine les communications de bus fastidieuses vers et depuis le PC
- Traitement de données et contrôle de flux avancés
- Connectez jusqu'à 32 nœuds TSP-Link
- Reconfiguration facile lorsque les exigences de test changent
| Modèle | Voies | Source de courant max/gamme de mesure | Source de tension max/gamme de mesure | Résolution de mesure (intensité/tension) | Alimentation | Tarif | Configure And Quote |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2601B-PULSE | 1 | 10 A | 40 V | 100 fA / 100 nV | Pulser: 100 W instantaneous SMU: 200 W instantaneous |
HKD 145,000 | Configuration et devis |
| Modèle | Voies | Source de courant max/gamme de mesure | Source de tension max/gamme de mesure | Résolution de mesure (intensité/tension) | Alimentation | Tarif | Configure And Quote |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2601B-PULSE | 1 | 10 A | 40 V | 100 fA / 100 nV | Pulser: 100 W instantaneous SMU: 200 W instantaneous |
HKD 145,000 | Configuration et devis |
Test de production de diode laser (VCSEL) pour les applications ToF/LIDAR
La solution idéale pour les tests de production LIV de laser à émission de surface à cavité verticale à diode laser (VCSEL), le 2601B-PULSE dispose d'un pulseur et d'une SMU à haute vitesse et haute précision de 10 μs pour la recherche d'impulsions de courant et la surveillance tension-courant des VCSEL, des matrices VCSEL, et modules de diode laser. Les SMU fournissent l'instrumentation LIV la plus rentable avec une synchronisation et un débit élevés du système.
- Source de courant d'impulsion programmable jusqu'à 10 A et 10 µs de largeur d'impulsion
- Résolution de mesure de tension et de courant à 100 nV et 100 fA
- La capacité de traitement TSP® intégrée réduit la communication entre le bus PC et l'instrument
Comment générer une impulsion de 10 μs avec le système 2601B-PULSE SourceMeter Pulse SMU Instrument
Le nouveau pulseur de courant/SMU élimine la longue temporisation manuelle lors de la sortie d'impulsions jusqu'à 10 µs
Analyse des défaillances et assurance qualité
Les entreprises et les chercheurs travaillant dans le domaine des semi-conducteurs cherchent constamment à provoquer des défaillances au niveau des appareils afin d'éviter que cela se produise sur le terrain. Les ingénieurs spécialisés dans l'analyse des défaillances (AD) des semi-conducteurs passent d'innombrables heures à essayer de comprendre pourquoi un appareil est tombé en panne et comment l'éviter à l'avenir.
- Rationalisation des processus AD grâce aux SMU et aux tests d'impulsions
- I/O numérique pour déclencher des caméras IR externes
- Fonction de timer intégrée avec une résolution de 1 μs et une précision de ±100 ppm
Caractérisation I/V pulsée/DC simplifiée des LED
Les capacités uniques d'impulsion de courant, de tension continue et de courant du 2601B-PULSE permettent la caractérisation et le test de production à haute vitesse à courant continu et IV pulsé avec une précision de mesure de base de 0,015 %. Le test d'impulsion d'une microLED, d'une LED ou d'une LED à haute luminosité (HBLED) minimise l'auto-échauffement et réduit l'impact négatif sur la précision de la mesure, tout en éliminant les possibilités d'endommager l'appareil testé.
- Source de courant programmable jusqu’à 10 A et largeurs d’impulsion de 10 μs
- Résolution de mesure de tension et de courant à 100 nV et 100 fA
- Numériseurs à 1 millions d'échantillons/seconde pour une collecte rapide des données de source et de mesure
- La capacité de traitement TSP intégrée réduit la communication du bus entre l’instrument et le PC
Tests de semi-conducteurs sur plaquette
Les instruments SMU SourceMeter® 2601B-PULSE et 2600B de Keithley combinent l'évolutivité et la flexibilité des instruments empilables avec l'intégration et le haut débit des systèmes mainframe, en utilisant les technologies TSP et TSP-Link pour réduire l'empreinte de fabrication et les coûts de test. Ces instruments sont couramment utilisés dans les tests de semi-conducteurs sur plaquette des diodes laser, des LED, des transistors et bien plus encore.
- La capacité de traitement TSP intégrée réduit la communication du bus entre l’instrument et le PC
- TSP-Link jusqu’à 32 instruments à une synchronisation de 500 ns avec d’autres instruments TSP de Keithley
Logiciel de commande de l'instrument KickStart de Keithley. Aucune programmation requise.
Faire des mesures est facile avec KickStart. Caractérisez vos composants et matériaux rapidement et facilement sans programmation. Visualisez les résultats en temps réel, sous forme de graphiques et de tableaux. Exportez des tableaux de données ou des graphiques pour créer des rapports rapides ou des analyses supplémentaires dans Excel.
- Créez rapidement des tests simples d'impulsion ou de balayage
- Générer des balayages linéaires, logarithmiques, de liste et doubles de la source de tension et de courant avec mesure simultanée
- Application de caractérisation I-V pour prendre en charge jusqu’à 4 unités de source et de mesure (SMU)
- Interface GPIB, USB, Ethernet sur système d’exploitation Windows
Téléchargez KickStart aujourd'hui et essayez-le
Fiche technique de KickStart de Keithley
Contrôle automatisé du laboratoire à la chaîne de fabrication
La suite Automated Characterization Suite (ACS) de Keithley offre un contrôle total de votre équipement. Que vous ayez besoin de contrôler quelques instruments sur votre banc ou d'automatiser une baie de test entière pour la production, ACS offre un environnement flexible et interactif pour la caractérisation des appareils, les tests paramétriques, les tests de fiabilité et les tests fonctionnels simples.
- Effectuez des tests individuels simples ou créez des arbres de projet complexes
- Codez avec Python dans ACS pour une flexibilité et un contrôle illimités
- Contrôle manuel ou automatisé du prober au niveau du wafer
- Capacités de gestion des données et d'analyse statistique
Environnement de développement de scripts GRATUIT pour optimiser les performances de l’instrument
TSB (Test Script Builder) est un logiciel qui simplifie la création de scripts de test pour les instruments compatibles TSP® (Test Script Processor) de Keithley.
- Envoyer des commandes et recevoir des réponses de l’instrument
- Créer, gérer et exécuter des scripts utilisateur
- Déboguer des scripts
- Importer des scripts d’usine pour afficher ou modifier et convertir en scripts utilisateur
| Fiche technique | Accessoire | Description |
|---|---|---|
| Affichage Fiche technique | 2600-BAN | CÂBLE D’INTERFACE POUR PRISE BANANE |
| Affichage Fiche technique | 2600-KIT | KIT DE CONNECTEUR À BORNIERS À VIS GAMME 2600 |
| Affichage Fiche technique | 2601B-PULSE-CA1 | Kit de câbles BNC vers BNC 1,2 mètre, 50 Ohms 2601B-PULSE |
| Affichage Fiche technique | 2601B-PULSE-CA2 | Kit de câbles BNC vers BNC 3 mètres, 50 Ohms 2601B-PULSE |
| Affichage Fiche technique | 2601B-PULSE-CA3 | Kit de câbles BNC vers BNC 3 mètres, 15 Ohms 2601B-PULSE |
| Affichage Fiche technique | 4299-1 | KIT POUR MONTAGE EN BAIE ULTRA-RÉSISTANT POUR UNITÉ 2600 SIMPLE |
| Affichage Fiche technique | 4299-2 | KIT POUR MONTAGE EN BAIE ULTRA-RÉSISTANT POUR DEUX UNITÉS |
| Affichage Fiche technique | 7078-TRX-GND | ADAPTATEUR TRIAXIAL MÂLE - BNC 3 SLOTS (GUARD RETIRÉE) |
| Affichage Fiche technique | 8101-PIV | BOÎTIER DE TEST PIV |
| Affichage Fiche technique | KPCI-488LPA | CARTE D’INTERFACE IEEE-488 À PROFIL BAS |
| Affichage Fiche technique | KUSB-488B | ADAPTATEUR D’INTERFACE USB - GPIB IEEE-488.2 |