Импульсный источник-измеритель 2601B-PULSE, 10nbspмкс

Высокая точность импульсных сигналов без ручной подстройки

Система управления прибора 2601B-PULSE исключает необходимость в ручной подстройке при колебаниях нагрузки в пределах до 3 мкГн, обеспечивая отсутствие выбросов и звона при генерировании импульсов длительностью от 10 мкс до 500 мкс при любом уровне тока до 10 ампер. Благодаря малому времени нарастания импульсов (<1,7 мкс), существенно повышается точность характеристик тестируемого устройства или схемы.

• Генерирование импульсов тока до 10 А с длительностью от 10 мкс при напряжении 10 В
• Время нарастания импульсов <1,7 мкс для получения достоверных характеристик
• Высокая точность генерируемых импульсов без подстройки при любом уровне тока

Высочайшая производительность за счёт встроенных сценариев тестирования и быстрых подключений

Технология использования сценариев тестирования (TSP®) позволяет встраивать и запускать сценарии тестирования на источнике-измерителе, обеспечивая лучшие в отрасли характеристики. Пользуясь технологией TSP-Link®, можно увеличить количество узлов TSP-Link до 32 для высокоскоростного одновременного тестирования каждого вывода отдельным каналом источника-измерителя без применения процессорной стойки.

• Исключение требующей много времени передачи данных по шинам от и до ПК
• Усовершенствованные процессы обработки данных и контроля потоков
• Подключение до 32 узлов TSP-Link
• Простота изменения конфигурации при изменении тестовых требований

Производственное тестирование лазерных диодов (VCSEL), предназначенных для систем ToF и лидаров

Самым эффективным решением для производственного тестирования характеристик «свет-ток-напряжение» (LIV) лазерных диодов на основе лазеров поверхностного излучения с вертикальным резонатором (VCSEL) является прибор 2601B-PULSE. Прибор состоит из высокоскоростного высокоточного генератора импульсов длительностью от 10 мкс и источника-измерителя, которые можно использовать для подачи импульсов тока, а также для мониторинга напряжения и тока лазеров VCSEL, лазерных матриц VCSEL и лазерных диодных модулей. Источники-измерители, отличающиеся высокой синхронизацией и производительностью, являются самыми эффективными в плане затрат приборами для измерения характеристик LIV.

• Программируемый источник импульсов тока до 10 А с минимальной длительностью 10 мкс
• Разрешающая способность по напряжению 100 нВ, по току 100 фА
• Благодаря возможностям встроенного TSP®, снижается необходимость в передаче данных по шинам на ПК

Генерирование импульсов длительностью 10 мкс при помощи системного импульсного источника-измерителя 2601B-PULSE
Новый генератор импульсов тока/SMU, исключающий рутинную ручную подстройку при генерировании коротких импульсов длительностью от 10 мкс

Анализ отказов и обеспечение качества

Разработчики и производители полупроводниковых приборов постоянно ищут способы предотвращения отказов выпускаемых устройств в процессе эксплуатации. Инженеры по анализу отказов (FA) полупроводниковых приборов проводят многочасовые испытания, пытаясь понять, в чём причина отказа и как предотвратить его будущем.

• Упрощение процессов анализа отказов за счёт тестирования в импульсном режиме при помощи источника-измерителя (SMU)
• Использование сигналов цифровых входов/выходов для запуска внешних ИК-камер
• Функция встроенного таймера с разрешением 1 μs и точностью ±100 ppm.

Усовершенствованный метод анализа отказов с использованием синхронной термографии и источников-измерителей (SMU)

Тестирование полупроводниковых приборов на уровне пластины

Прибор 2601B-PULSE и другие системные источники-измерители SourceMeter® серии 2600B компании Keithley сочетают в себе масштабируемость и гибкость приборов для стоечного монтажа с высокой производительностью систем на основе процессорной стойки, а также преимущества технологии TSP и TSP-Link для сокращения занимаемого приборами места и снижения затрат на тестирование. Обычно эти приборы используются для тестирования полупроводниковых структур лазерных диодов, светодиодов, транзисторов и ряда других элементов на уровне пластины.

• Благодаря возможностям встроенного TSP, снижается необходимость в передаче данных по шинам на ПК
• Технология TSP-Link позволяет соединять в единую измерительную системы до 32 приборов. Точность синхронизации 500нс

Автоматизация управления: от разработки до производства

С помощью пакета Automated Characterization Suite (ACS) от Keithley можно обеспечить полное управление оборудованием. Независимо от уровня потребностей — от управления несколькими приборами на стенде до автоматизации всей испытательной стойки для производства, — пакет ACS создаёт гибкую интерактивную среду для определения характеристик, параметрических испытаний, испытаний надёжности и базовых функциональных испытаний устройств.

• Проведение простых разовых испытаний либо создание сложного дерева проекта
• Кодирование в Python внутри ACS, обеспечивающее неограниченную гибкость и полный контроль систем
• Ручное или автоматическое управление зондовыми станциями для контроля на уровне пластин
• Функции управления данными и статистического анализа

Переход к автоматизации