Bộ tạo xung 2601B-PULSE 10 µsec/SMU

Đạt được độ trung thực xung cao mà không cần điều chỉnh xung thủ công

Hệ thống vòng lặp điều khiển của 2601B-PULSE giúp loại bỏ nhu cầu điều chỉnh thủ công đối với các thay đổi tải lên đến 3 μH, đảm bảo xung của bạn không có hiện tượng quá điện áp và dao động khi xuất ra các xung từ 10 μs đến 500 μs ở bất kỳ mức dòng điện nào lên đến 10 ampe. Với thời gian tăng xung <1,7 μs, bạn có thể xác định đúng đặc điểm của thiết bị hoặc mạch đang được kiểm tra.

• Đầu ra 10 A @ 10 V với độ rộng xung 10 μs
• Thời gian tăng xung <1,7 μs để mô tả đặc điểm một cách tự tin
• Đầu ra xung có độ trung thực cao mà không cần điều chỉnh ở bất kỳ mức dòng điện nào

Tập lệnh nhúng và kết nối cho thông lượng sản xuất chưa từng có

Công nghệ Test Script Processor (TSP®) nhúng và thực hiện các chương trình kiểm tra hoàn chỉnh bên trong thiết bị SMU để mang lại hiệu suất tốt nhất ngành. Công nghệ TSP-Link® cho phép mở rộng lên đến 32 nút TSP-Link để tạo kiểm tra song song tốc độ cao, SMU trên mỗi chấu mà không cần máy tính lớn.

• Loại bỏ giao tiếp bus tốn thời gian đến và từ máy tính
• Xử lý dữ liệu nâng cao và kiểm soát luồng
• Kết nối tới 32 nút TSP-Link
• Dễ dàng cấu hình lại khi các yêu cầu kiểm tra thay đổi

Kiểm tra sản xuất điốt Laser (VCSEL) cho các ứng dụng ToF/LIDAR

Giải pháp lý tưởng cho việc kiểm tra sản xuất LIV laser phát xạ mặt với bộ cộng hưởng thẳng đứng (VCSEL), Máy tạo xung 2601B-PULSE có tốc độ cao và độ chính xác cao 10 μs và SMU cho cả nguồn cung cấp xung dòng điện và theo dõi dòng điện áp của VCSEL, VCSEL giàn, và các mô-đun điốt laser.

• Nguồn dòng xung có thể lập trình lên đến 10 A và độ rộng xung 10 µs
• Độ phân giải đo điện áp và dòng điện ở 100 nV và 100 fA
• Khả năng xử lý TSP® tích hợp làm giảm giao tiếp bus dụng cụ-máy tính

Cách tạo xung 10μs với 2601B-PULSE Dụng cụ SMU SourceMeter hệ thống 2601B-PULSE
Máy tạo xung dòng điện/SMU dòng điện mới loại bỏ thời gian tiêu tốn thời gian Định giờ thủ công khi phát ra xung ở mức thấp nhất là 10 µs

Phân tích lỗi và đảm bảo chất lượng

Các công ty bán dẫn và các nhà nghiên cứu chất bán dẫn không ngừng tìm cách chế tạo các thiết bị không thể ngăn cản họ trong lĩnh vực này. Các kỹ sư phân tích lỗi bán dẫn (FA) dành vô số thời gian để cố gắng tìm hiểu lý do tại sao một thiết bị bị lỗi và làm thế nào để ngăn chặn lỗi trong tương lai.

• Hợp lý hóa các quy trình FA với kiểm tra xung và SMU
• I/O kỹ thuật số để kích hoạt camera IR bên ngoài
• Chức năng hẹn giờ tích hợp với độ phân giải 1 μs và độ chính xác ±100 ppm.

Nâng cao kỹ thuật phân tích lỗi sử dụng thiết bị đo nguồn và máy đo nhiệt khóa

Kiểm tra lát bán dẫn

2601B-PULSE và dụng cụ SMU SourceMeter® hệ thống 2600B Series của Keithley kết hợp khả năng mở rộng và tính linh hoạt của các thiết bị để tủ rack và xếp chồng với sự tích hợp và thông lượng cao của các hệ thống dựa trên máy tính lớn, sử dụng công nghệ TSP và TSP-Link để giảm diện tích sản xuất và chi phí kiểm tra. Những dụng cụ này thường được sử dụng trong kiểm tra lát bán dẫn của điốt laze, đèn LED, bóng bán dẫn, v.v..

• Khả năng xử lý TSP tích hợp làm giảm giao tiếp bus dụng cụ máy tính
• TSP-Link lên đến 32 thiết bị ở mức đồng bộ 500 nano giây với các thiết bị Keithley TSP khác

Điều khiển tự động từ phòng thí nghiệm đến phòng thí nghiệm

Bộ mô tả đặc điểm tự động (ACS) của Keithley cung cấp khả năng kiểm soát hoàn toàn thiết bị của bạn. Cho dù bạn cần điều khiển một vài thiết bị trên bàn làm việc của mình hay tự động hóa toàn bộ giá kiểm tra để sản xuất, ACS cung cấp một môi trường linh hoạt, tương tác để mô tả đặc điểm thiết bị, kiểm tra tham số, kiểm tra độ tin cậy và kiểm tra chức năng đơn giản.

• Thực hiện các bài kiểm tra 1 lần đơn giản hoặc xây dựng các cây dự án phức tạp
• Mã bằng Python bên trong ACS để kiểm soát và linh hoạt không giới hạn
• Điều khiển que đo lát bán dẫn tự động hóa hoặc thủ công
• Khả năng quản lý dữ liệu và phân tích thống kê

Bắt đầu tự động hóa