AFG31000シリーズ任意波形／ファンクション・ジェネレータ

InstaView™を実際にご覧ください。

DUTの波形を直接検証

テクトロニクス独自のInstaView™テクノロジにより、被測定デバイス（DUT）における実際の波形をAFGで表示できます。オシロスコープやプローブなど、他の機器を用意する必要がないため、テスト時間を短縮できるだけでなく、テスト結果におけるインピーダンス不一致の心配がありません。

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3つのステップで波形シーケンスを簡単にプログラムできます。 実際にご覧ください。

優れた信号忠実度を実現するアドバンス・モード

標準で最大16Mポイント／chの波形メモリを備えており、連続モードで長い波形も正確に生成できます。可変サンプリング・クロック技術により、波形データを取りこぼす心配もありません。アップグレードによって、より高い要件のテストにも対応できるため、複雑な波形も従来のAWGの10分の1のコストで生成／プログラムできます。

オプションのアップグレードでは以下の機能を追加できます。

• 波形メモリをチャンネルあたり128Mポイントに拡張（Opt. MEM）
• シーケンス／トリガ／ゲート・モード（Opt. SEQ）：最大25のエントリと分岐、繰返し、待機、ジャンプ、GoTo、外部トリガ、マニュアル・トリガ、時間トリガといった豊富な設定に加え、SCPIコマンドもサポートしており、複雑で柔軟なタイミングを持つ長い波形の生成が可能

「優れた機能を備えたこのAFGを使用すれば、セットアップやテストの時間を通常の半分まで短縮できます」

- ジョン・ムーア、エンジニアリング・マネージャ、TZ Medical社

洗練されたユーザ・インタフェース

大型タッチスクリーンを装備したAFGなら、操作方法も短時間で習得でき、効率的に作業を行えます。スマート・デバイスを思わせる9型スクリーンは、ピンチ／ズーム／スクロール操作に対応しており、簡略化されたメニューを使用して簡単に設定項目やパラメータを特定できます。頻繁に使用する項目では、ショートカットも利用できます。

数値に裏付けられた高性能

オンラインによるアップグレード

ソフトウェアベースのアーキテクチャの採用により、AFG31000シリーズをWebサイトから直接アップグレードしていただけます。新しいオプションも用意されており、ニーズの変化にも対応できます。

現在利用可能なオプション：

• 帯域アップグレード
• メモリ長のアップグレード
• 波形シーケンシングのアップグレード

アナログ回路の特性評価

アナログの世界へようこそ。すべての物理量はアナログ信号として取込まれ、表現されます。そのため、増幅器、フィルタ、コンバータといったアナログ回路の性能を評価する必要があります。

• InstaView™テクノロジにより、インピーダンス不整合によってDUTに追加される波形の不確実さを解消
• 周波数レンジ：25MHz～250MHz
• 優れた信号忠実度により、外部フィルタやアッテネータが不要
• 優れた周波数アジリティと正弦波フラットネスにより、周波数応答試験も容易に実施可能

機能検証と性能／特性評価

製品を市場に出す前に、仕様を満たしていることを確認しなければならないため、エンジニアが実施するテスト・ケースは膨大な数となります。このプロセスは時間がかかり、また何度も繰り返す必要がありました。

• プログラムによる自動テストと、直感的なユーザ・インタフェースによる手動テスト
• 波形シーケンスを使用することで、1つのシーケンスですべてのテスト・ケースの逐次処理が可能
• 柔軟な分岐処理による効率化
• 最大128Mポイントの波形メモリと内蔵不揮発性メモリにより、すべての波形とテスト・ケースの保存が可能

ダブル・パルス・テスト

ダブル・パルス・テストは、MOSFETやIGBTなどのパワー・デバイスのスイッチング・パラメータを測定し、その動的特性を評価するための手法です。ダブル・パルス・テストでは、ターンオン、ターンオフ、逆回復（リバース・リカバリ）などのパラメータが測定されます。

テストは以下のような目的で実施されます。

• MOSFETやIGBTなどのパワー・デバイスのデータ・シートにおける仕様の保証
• パワー・デバイスまたはパワー・モジュールの実値または偏差の確認
• さまざまな負荷条件の下でのスイッチング・パラメータの測定と多くのデバイスを対象とした性能の検証

ダブル・パルス・テスト・ソフトウェアのダウンロード

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