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Logiciel de caractérisation Keithley ACS
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Flexibilité avec les préférences de programmation pour les applications de caractérisation
Le logiciel ACS est pourvu de Script Editor, un outil indépendant avec une interface utilisateur graphique qui permet de développer du code Python et des scripts TSP® pour le contrôle d'instruments, l'analyse de données et l'automatisation de systèmes. Il permet de créer et de développer de manière intuitive des interfaces utilisateur graphiques ainsi que de gérer des modules et des bibliothèques utilisateur.
Automatisez vos processus de recueil de données
L'option d'automatisation de la station de probing du wafer pour ACS permet d'interfacer facilement les différentes stations de probing de wafers semi ou entièrement automatiques de votre configuration de test en vue de capturer rapidement un plus grand nombre de données. Cette option comprend un utilitaire de description du wafer, des cartes du wafer en temps réel avec possibilité de tri par bin, un utilitaire de planification de l'échantillonnage de la cassette, un utilitaire de vérification de la cassette et du wafer après test. Nombre d'outils et fonctions d'ACS facilitent la caractérisation automatique des circuits.
Partagez des projets et résultats de test
Le logiciel ACS fournit un ensemble d'éléments essentiels qui fonctionnent avec un grand nombre de configurations matérielles en vue de gagner du temps et d'améliorer la productivité. Les systèmes fonctionnent de manière cohérente d'une implémentation matérielle à l'autre, donc il est par exemple facile de transférer vos connaissances d'un système basé sur ACS utilisé pour la caractérisation d'un unique composant à un autre conçu pour le test au niveau du wafer.
Maximisez la productivité de votre matériel Keithley
Les outils disponibles dans ACS simplifient le développement de test et maximisent la vitesse de chacun des instruments Keithley reliés au système. Associés, les instruments basés sur TSP ACS et Keithley offrent le meilleur débit du marché. Ils permettent donc de réduire le coût du test, sans vous contraindre à apprendre de nouveaux concepts ou langages de programmation avant d'obtenir les données nécessaires à la réalisation de vos objectifs.
Instruments pris en charge
| Type d’instrument | Modèle | Édition du logiciel ACS |
|---|---|---|
| Unités SMU | Série 2600B : 2601B, 2602B, 2604B, 2611B, 2612B, 2614B, 2634B ,2635B, 2636B Série 2600A : 2601A, 2602A ,2611A, 2612A, 2635A, 2636A Série 2400 à écran tactile graphique : 2450, 2460, 2460-NFP, 2460-NFP-RACK, 2460-RACK, 2461, 2461-SYS, 2470 Série 2400 standard : 2401, 2410, 2420, 2430, 2440 2606B haute densité : 2606B Série 2650 haute puissance : 2651A, 2657A |
ACS Basic ACS Standard |
| Analyseurs paramétriques | 4200A | ACS Basic ACS Standard |
| Multimètres numériques | DMM7510, Série 2010 | ACS Basic ACS Standard |
| Systèmes de commutation | 707A/B, 708A/B, 3700A | ACS Basic ACS Standard |
| Générateurs d'impulsions | Série 3400 | ACS Basic ACS Standard |
| Probers | TEL P8/P12, TEL T78S/80S, ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90, MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000, FormFactor (Cascade) Summit 12000, FormFactor (Cascade) S300, Suss MicroTec PA200/Cascade CM300, Electroglas EG2X/EG4X, Wentworth Pegasus 300S, Signatone CM500, Yang Sagi3, Micromanipulator P300A, Vector Semiconductor AX/VX Series, Apolowave AP200/AP300, MJC AP-80, Semiprobe SPFA Prober | ACS Standard |
Remarques :
- ITM prend en charge les instruments TTI 24xx, les instruments 26xx et les cas d'utilisation mixte.
- L'utilisateur peut contrôler n'importe quel instrument TSP à l'aide d'un script STM. Les bibliothèques STM ACS existantes prennent en charge des instruments spécifiques en fonction de définition de la bibliothèque.
- L'utilisateur peut contrôler n'importe quel instrument TSP à l'aide d'un script PTM. Les bibliothèques ACS PTM existantes prennent en charge des instruments spécifiques en fonction de la définition de la bibliothèque.
Principales fonctionnalités d'ACS Basic Edition
HKD 3,840
Abonnement de 3 mois
HKD 12,400
Abonnement de 12 mois
HKD 31,400
Perpétuelle
- Conçu pour les composants en boîtier (MOSFET, BJT, IGBT, diodes, résistances, etc.).
- Une vaste gamme de bibliothèques de test, une configuration et une exécution faciles des test sans programmation.
- Des outils d'analyse des données intégrés pour analyser rapidement les données paramétriques.
- Configuration simplifiée des instruments à l'aide de l'outil de gestion automatique du matériel
Sélectionnez une option de licence pour continuer
Principales fonctionnalités d'ACS Standard Edition
HKD 76,200
Abonnement de 12 mois
Perpétuelle
- Prend en charge les modules de test suivants : interface utilisateur graphique, Lua Script, Python et C
- Prend en charge un large éventail d’instruments et de sondes pour s’adapter à une large gamme d’applications
- L’interface graphique intuitive simplifie les tests I-V, l’analyse et les résultats, des tests en laboratoire aux testeurs paramétriques entièrement automatisés pour améliorer l’expérience utilisateur
- Développement et exécution des tests au niveau du composant, du sous-site, du site, du wafer et de la cassette pour une fonctionnalité de test améliorée
Sélectionnez une option de licence pour continuer
Principales fonctionnalités d'ACS WLR Edition
HKD 122,000
Abonnement de 12 mois
Perpétuelle
- Configurations système de 2 à 44 voies
- Suite de tests complète conforme à la norme JEDEC
- Optimisé pour les technologies émergentes et matures
- Prend en charge les tests séquentiels et parallèles
- Capacité de site unique et multi-site entièrement automatique
- Compatible avec les stations de probing de wafer les plus populaires
- Tracé et schématisation du wafer en temps réel
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Applications du laboratoire à la chaîne de fabrication
Les systèmes de test intégrés basés sur le logiciel ACS sont des solutions complètes pour des applications telles que le tri paramétrique de puces, la caractérisation de composants à semi-conducteurs de puissance et le test de fiabilité au niveau du wafer. Leur association avec des stations de probing entièrement automatisées permet d'optimiser facilement les configurations matérielles et le développement de test pour des tâches spécifiques.
Système de test intégré ACS pour test parallèle multi-site (Notes d'application)
Increase Reliability Throughput
Reliability tests improve quality, reduce failure rates, ensure high yields, and increase confidence. ACS Software supports Shared Stress methodology for high volume reliability testing, accelerating test times.
Ultra-Low Resistance Measurements using Delta Mode
The 2182A/622X combination is well suited for many nanotechnology applications because it can measure resistance without dissipating much power in the device under test (DUT), which would otherwise invalidate results or even destroy the DUT. Perform Delta Mode tests with ACS Software to incorporate these sensitive measurements into a test system.
Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A
Séquencement d'alimentation pour la caractérisation I-V des circuits HEMT GaN
En raison de leur caractéristique « normalement activé », les circuits HEMT GaN requièrent une séquence d'alimentation spécifique pour leur caractérisation I-V. Le logiciel ACS prend en charge le séquencement d'alimentation pour la caractérisation d'un circuit HEMT GaN sans nuire à la capture de ses caractéristiques I-V intrinsèques.
Note d'application sur le séquencement d'alimentation pour la caractérisation des circuits HEMT GaN
Au service des applications dans l'environnement des semi-conducteurs
Les éditions ACS Basic et ACS Standard du logiciel ACS sont utilisées dans le secteur des semi-conducteurs afin d’effectuer une large palette de tests qui fourniront une caractérisation détaillée des composants à semi-conducteurs. Les systèmes de test intégrés ACS Basic et ACS Standard permettent :
- Le test au niveau du composant, du site, du wafer et de la cassette.
- Des configurations flexibles, une personnalisation du logiciel et des applications.
- Un fonctionnement du système interactif et automatisé.
- Une association performante d'une interface utilisateur graphique et d'outils de génération de scripts pour le développement de modules de test.
Phase de développement
Le logiciel ACS Basic Edition est optimisé pour effectuer des tests paramétriques de composants et de circuits à semi-conducteurs discrets (en boîtier). Il maximise la productivité des techniciens et ingénieurs de recherche et développement grâce aux fonctionnalités suivantes :
- Conçu pour les composants en boîtier (MOSFET, BJT, IGBT, diodes, résistances, etc.).
- Une vaste gamme de bibliothèques de test, une configuration et une exécution faciles des test sans programmation.
- Des outils d'analyse des données intégrés pour analyser rapidement les données paramétriques.
- Prise en charge des instruments SMU SourceMeter Keithley séries 2600B, 2400, 2651A et 2657A
Phase d'intégration
L'édition ACS Standard du logiciel est utilisée lors de la phase d'intégration pour le test semi-automatique des wafers, notamment afin de développer des processus robustes et d'effectuer des tests de fiabilité au niveau du wafer (Wafer Level Reliability ou WLR). Ce logiciel peut être utilisé pour le test au niveau système avec un SMU par broche. Le logiciel ACS WLR présente les avantages suivants :
- Des capacités de test entièrement automatisées afin de tester individuellement les wafers ou une cassette entière.
- Un logiciel pour une configuration de test flexible et exécuter des tests en parallèle.
- Conformité du module pour test de fiabilité (Reliability Test Module ou RTM) aux méthodologies de test standard JEDEC.
- Prise en charge de la création d'un module ou de procédures de test personnalisés.
Phase de production
Le logiciel ACS Standard Edition est également utilisé sur des systèmes de test personnalisés en rack entièrement intégrés et automatisés pour la surveillance des processus (PCM), les tests d'acceptation Wafer (WAT) et le tri des matrices. Nombre d'outils et fonctions du logiciel ACS Standard facilitent la caractérisation automatique des circuits :
- Automatisation au niveau des wafers et de la cassette.
- Carte de test pour associer les circuits et les tests aux sites et sous-sites.
- Mode de contrôle interactif de la station de probing.
- Enregistrement des données Keithley unique ou par wafer.