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吉時利自動化特性分析套件 (ACS) 軟體
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可靈活設定特性分析應用的程式設計偏好
ACS 具有指令檔編輯器,這是一個獨立的工具,具有圖形使用者介面,可供開發 Python 程式碼與 TSP® 指令檔,以執行儀器控制、資料分析及系統自動化。其能讓使用者以直覺的方式建立與開發 GUI 設計,及管理使用者資料庫與模組。
自動進行資料收集程序
ACS 的晶片探棒自動化選項,能夠將各種常用的半自動或全自動化晶片探測站,輕鬆地接合到測試設定,以快速擷取大量資料。此選項包括晶片說明公用程式、具備分割分析的即時晶片映射、卡位取樣方案規劃公用程式,以及測試後卡位與晶片審查公用程式。許多內建在 ACS 的工具與功能,可增強自動裝置的特性分析。
分享測試專案與結果
ACS 提供一組可用於各種硬體組態的常用重要元件,能夠縮短時間並提升產能。系統在不同的硬體實作之間轉移時,皆有一致的效能,因此舉例來說,能夠將您對於用於單一裝置元件特性分析的以 ACS 為基礎系統知識,輕鬆地轉移到為晶片位準測試設計的系統。
充分發揮 Keithley 硬體的生產力
ACS 中的工具可簡化測試開發,並加快每個連結至此系統的 Keithley 儀器速度。ACS 與 Keithley 以 TSP 為基礎的硬體搭配在一起時,能夠提供業界最高的輸送量,因此可降低成本,而且無須花時間學習新的程式設計概念或語言,就能取得達成目標所需的資料。
支援的儀器
儀器類型 | 機型 | ACS 版 |
---|---|---|
SMU 儀器 | 2600B系列:2601B、2602B、2604B、2611B、2612B、2614B、2634B、2635B、2636B 2600A 系列:2601A、2602A、2611A、2612A、2635A、2636A 2400 圖形觸控式螢幕系列:2450、2460、2460-NFP、2460-NFP-RACK、2460-RACK、2461、2461-SYS、2470 2400 標準系列:2401、2410、2420、2430、2440 2606B 高密度:2606B 2650 大功率系列:2651A、2657A |
ACS 基本 ACS 標準 |
參數分析儀 | 4200A | ACS 基本 ACS 標準 |
DMM | DMM7510、2010 系列 | ACS 基本 ACS 標準 |
切換系統 | 707A/B、708A/B、3700A | ACS 基本 ACS 標準 |
脈衝產生器 | 3400 系列 | ACS 基本 ACS 標準 |
探棒 | TEL P8/P12、TEL T78S/80S、ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90、MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000、FormFactor (Cascade) Summit 12000、FormFactor (Cascade) S300、Suss MicroTec PA200/Cascade CM300、Electroglas EG2X/EG4X、Wentworth Pegasus 300S、Signatone CM500、Yang Sagi3、Micromanipulator P300A、Vector Semiconductor AX/VX 系列、Apolowave AP200/AP300、MJC AP-80、Semiprobe SPFA 探棒 | ACS 標準 |
附註:
- ITM 支援 24xx TTI 儀器、26xx 儀器和混合使用案例。
- 使用者可以透過 STM 指令碼控制任何 TSP 儀器。現有的 ACS STM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
- 使用者可透過 PTM 指令碼控制任何儀器。現有的 ACS PTM 資料庫支援每個資料庫定義的特定儀器。
軟體
維護授權ACS 基本版主要功能
HKD 3,840
3 個月訂閱
HKD 12,400
12 個月訂閱
HKD 31,400
終身
- 專為封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 所設計
- 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
- 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
- 使用自動化硬體管理工具簡化儀器配置
ACS 標準版主要功能
12 個月訂閱
終身
- 支援以下測試模組:GUI、Lua Script、Python 和 C
- 支援多種儀器和探棒,以適應各種應用
- 直覺式 GUI 簡化了從桌上型到全自動參數測試儀的 I-V 測試、分析和結果,以增强使用者體驗
- 在裝置、子網站、網站、晶片和卡式位準中開發及執行測試,以提高測試能力
ACS WLR 版主要功能
HKD 122,000
12 個月訂閱
終身
- 2 至 44 通道的系統配置
- 完整的 JEDEC 相容測試套件
- 針對新興和成熟科技進行最佳化
- 支援依序和並行測試
- 全自動單網站和多網站功能
- 與所有熱門的晶片探測站相容
- 即時繪圖和晶片映射
從實驗室到晶圓廠的應用
以 ACS 為基礎的「整合測試系統」是完整的解決方案,適用於如參數晶粒分類、高功率半導體元件特性分析,及晶片位準可靠度測試等應用。當與合適的半自動與全自動探測站搭配時,其硬體組態與測試專案開發能夠針對特定的任務最佳化。
Increase Reliability Throughput
Reliability tests improve quality, reduce failure rates, ensure high yields, and increase confidence. ACS Software supports Shared Stress methodology for high volume reliability testing, accelerating test times.
Ultra-Low Resistance Measurements using Delta Mode
The 2182A/622X combination is well suited for many nanotechnology applications because it can measure resistance without dissipating much power in the device under test (DUT), which would otherwise invalidate results or even destroy the DUT. Perform Delta Mode tests with ACS Software to incorporate these sensitive measurements into a test system.
Keithley Ultra-Low Resistance Configurations Series 6200/2182A
GaN HEMT I-V 特性分析的供電排序
GaN HEMT 具有「通常開啟」的特性,因此在 I-V 特性分析期間需要特定的供電順序。ACS 軟體支援裝置 GaN HEMT 特性分析的供電順序,擷取其固有的 I-V 特性時不會傷害裝置。
應用在整個半導體工作流程
ACS Basic Edition 與 ACS Standard Edition 軟體皆用於整個半導體工作流程中,以執行半導體裝置詳細特性分析的各種測試。ACS Basic 與 ACS Standard 整合式系統提供:
- 裝置、晶片與卡式位準的測試
- 彈性的設定方式,以及可自訂的軟體與應用程式
- 互動式且自動化的系統操作
- GUI 與指令檔工具的強大組合可供開發測試模組之用
開發階段
ACS Basic Edition 軟體已針對元件和離散 (封裝) 半導體裝置的參數測試最佳化。此軟體具有以下重要功能,能夠提高研發技術人員與工程師的生產力:
- 針對封裝的裝置 (MOSFET、BJT、IGBT、二極體、電阻等) 設計
- 提供一組豐富的測試庫,可快速輕鬆地測試設定與執行,無須程式設計
- 內建的資料分析工具,可快速分析參數資料
- 支援 Keithley 的 2600B 系列、2400 系列、2651A 和 2657A 系統 SourceMeter SMU 儀器
整合階段
ACS Standard Edition 軟體用於半自動晶片測試的整合階段,包括穩健的程序開發與晶片位準可靠度 (WLR)。此軟體可用於 SMU 每個接腳系統位準測試。ACS WLR 軟體具有以下優點:
- 全自動功能,可測試個別的晶片或整個卡位
- 可彈性設定測試與進行平行測試的軟體
- 可靠度測試模組 (RTM) 與 JEDEC 標準測試方法相容
- 支援建立自訂的測試模組/程序
生產階段
ACS Standard Edition 軟體也用於完全整合及自動化的以機架為基礎的自訂測試系統,以用於製程控制監控 (PCM)、晶片驗收測試 (WAT) 及晶粒分類。許多內建在 ACS Standard 軟體的工具與功能可增強 自動裝置的特性分析:
- 晶片位準與卡式位準自動化
- 測試映射對映射裝置及對站點和子站點的測試
- 互動式探測站控制模式
- 單一或各個晶片 Keithley 資料檔案