與我們聯絡
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間：上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)
致電
請致電
與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間：上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)
下載
下載手冊、產品規格表、軟體等等：
意見回饋
電源效率
確保安全、精確和快速在實驗室和晶片測試環境中進行 Si、SiC 和 GaN MOSFET 測試。瞭解更多有關在您的設計中採用 SiC 和 GaN 所帶來的測試挑戰，以及如何解決這些挑戰的資訊。探索如何將功耗降到最低，並最大化終端產品的電池壽命。加快設計的上市時間。
功率裝置特性分析
- 安全、精確、快速進行 Si、SiC 和 GaN 裝置的 MOSFET 測試
- 寬功率封裝元件
- 安全地設定您的測試
- 以兩倍的速度將裝置特性化，從而加快上市時間
- 避免過度設計造成您的寬能隙裝置成本上揚
分析配電網路 (PDN) 的電源完整性
- 在不阻隔直流電的情形下量測高頻漣波
- 處理 1 V 至 48 V 及以上的電源
- 儘量減少量測系統雜訊貢獻
- PDN 阻抗量測
- 同步頻譜和波形以找出雜訊來源
- 自動電軌量測
