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Conception et fabrication de semi-conducteurs
Nous vous aidons à commercialiser plus rapidement vos nouvelles conceptions
Les nouveaux matériaux semi-conducteurs, tels que le SiC et le GaN, engendrent souvent des problématiques uniques lors de la phase de développement.
- La caractérisation DC des semi-conducteurs exige des mesures compréhensibles I-V, C-V et à impulsions rapides.
- Tester des dispositifs à semi-conducteurs forte puissance nécessite des tensions et des niveaux de puissance plus élevés, des temps de commutation plus rapides, des courants de crête plus hauts et des courants de fuite plus faibles.
- Les environnements de production de semi-conducteurs exigent de l’automatisation, l’intégration de la station de probing, de la vitesse et du débit pour le tri des puces, ainsi que des tests de fiabilité et d’agrément des wafers.
Les interfaces numériques très rapides nécessitent des cycles de validation PHY plus courts. Accélérer le débogage, le décodage protocolaire et l’identification de la gigue et le bruit des sources telles que la diaphonie sont des exigences critiques pour les concepteurs.
Il y a tant de tests de validation électriques à réaliser en si peu de temps !
Contenu sélectionné
Optimisez la vitesse et le débit des mesures pour semi-conducteurs à l’aide des unités d’alimentation et de mesure (SMU)
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eGuide de caractérisation des semi-conducteurs
Ce guide de 16 pages présente les outils et les techniques les plus récents, et notamment les analyseurs paramétriques, pour la caractérisation des semi-conducteurs. Il contient des notes d’application, des webinaires, des vidéos de démonstration, et bien plus encore !
Comprendre, caractériser et synchroniser la gigue
Ce manuel de 24 pages présente des techniques simples et pratiques pour réaliser des mesures de gigue sans avoir à effectuer des calculs statistiques complexes.
Équipement recommandé
- Unités de source et de mesure (SMU) Keithley : délivre et mesure simultanément le courant ou la tension avec une grande précision et une vitesse élevée.
- Analyseurs paramétriques Keithley : effectuez les balayages de mesure I-V et C-V, ainsi que les mesures transitoires I-V et d’impulsions ultra-rapides
- Oscilloscopes : 8 ingénieurs sur 10 dans le monde ont choisi nos instruments pour les aider à déboguer et tester plus rapidement les produits de demain