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半導體設計與製造
協助您讓您的新設計更快上市
例如 SiC 和 GaN 等全新的半導體材料，通常會在開發期間引入獨特的挑戰。
- DC 半導體特性分析需要全面性的 I-V、C-V 和快速脈波量測。
- 高功率半導體裝置的測試會帶動高電壓及功率位準、較快切換時間、較高峰值電流以及較低漏電量的需求。
- 半導體生產環境需要自動化、探棒台整合、晶粒分類的速度和傳輸率、晶圓接受和可靠度測試。
高速數位介面使得對 PHY 驗證週期的速度需求更加迫切。 更快的除錯、通訊協定解碼，以及從像是串流音等訊號源識別抖動和雜訊，都是設計者的重要需求。
備有多種電子驗證測試方法，為您省下更多時間！
建議的設備
- Keithley 電源量測設備 (SMU)：電源和電流或電壓的高速及高準確度同時量測。
- Keithley 參數分析儀：執行 I-V 和 C-V 量測掃描、超快速脈衝和暫態 I-V 量測
- 示波器：全球有八成工程師信任我們的示波器可協助他們加速除錯和測試未來的設計