お問い合わせ
ダウンロード
マニュアル、データシート、ソフトウェアなどのダウンロード：
フィードバック
半導体検査装置｜電気特性評価
半導体検査装置に関するよくある質問
半導体検査装置とは？
半導体検査装置とは、半導体の製造工程の中で、信頼性や品質などの確保のための検査を行うときに用いられる機器のことです。
半導体検査装置の仕組みは？
テクトロニクス／ケースレーでは、半導体の電気特性評価が可能な製品を幅広くご用意しております。各製品の仕組みや特徴、用途などは各製品ページをご覧ください。また、製品ページでは、「MOSFETとMOSCAPデバイスの特性評価でよくある質問 Top10」などの関連資料もダウンロード可能です。
半導体検査装置の種類は？
テクトロニクス／ケースレーでは、電流-電圧（I-V）測定、容量-電圧（C-V）測定、超速パルス I-Vの同期測定が行える半導体パラメータ・アナライザや、カーブ・トレース・モードを搭載したパラメトリック・カーブ・トレーサなど、半導体の電気特性評価が行える測定器を幅広くご用意しております。製品についてご不明な点ございましたら、当社の専門スタッフへお気軽にお問い合わせください。